Konik Kesit Fonksiyonlu Yapay Sinir Ağı Kullanılarak Miyoelektrik İşaretlerin Sınıflandırılması

ÖZYILMAZ L., YILDIRIM T.

SIU'99 IEEE Sinyal İşleme ve Uygulamaları Kurultayı, Ankara, Türkiye, 16 - 19 Haziran 1999, (Tam Metin Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Ankara
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • İstanbul Gelişim Üniversitesi Adresli: Hayır