The Thickness Monitorıng Of Electrodeposited CoFeCu/Cu Multilayers By Focus Ion Beam Technıque

ŞAHİN T., KÖÇKAR H., ALPER M.

TFD31- Turkish Physical Society, Muğla, Türkiye, 21 - 24 Temmuz 2014, (Özet Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Muğla
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • İstanbul Gelişim Üniversitesi Adresli: Evet