Use of hall effect semiconductors in geotechnical instrumentation

Clayton C. R., KHATRUSH S. A. S. M., Bica A. V., Siddique A.

Geotechnical Testing Journal, cilt.12, sa.1, ss.69-76, 1989 (Scopus)

  • Yayın Türü: Makale / Tam Makale
  • Cilt numarası: 12 Sayı: 1
  • Basım Tarihi: 1989
  • Doi Numarası: 10.1520/gtj10676j
  • Dergi Adı: Geotechnical Testing Journal
  • Derginin Tarandığı İndeksler: Scopus
  • Sayfa Sayıları: ss.69-76
  • İstanbul Gelişim Üniversitesi Adresli: Evet