Tezin Türü: Yüksek Lisans
Tezin Yürütüldüğü Kurum: İstanbul Gelişim Üniversitesi, LİSANSÜSTÜ EĞİTİM ENSTİTÜSÜ, MEKATRONİK MÜHENDİSLİĞİ , Türkiye
Tezin Onay Tarihi: 2018
Tezin Dili: Türkçe
Öğrenci: PINAR KARABUL
Danışman: Ümit Alkan
Açık Arşiv Koleksiyonu: AVESİS Açık Erişim Koleksiyonu
Özet:Röntgen'in 1895 yılında X-ışınlarını keşfi, materyallerin kimliklendirilmesi ilgili önemli bir çığır açmıştır. X-Işını Floresans, elementlerin kalitatif ve kantitatif analizlerini numuneye zarar vermeden sağlayan önemli bir analitik tekniktir. Günümüzde temel fizik araştırmaları, metalürji, endüstri, tıp, biyokimya ve arkeoloji gibi çok farklı alanlarda kullanılan bu teknik sabit açılı deney geometrilerinde uygulanmaktadır. Ayrıca, XRF tekniği malzemelerin zırhlama yetenekleri hakkında bilgi veren kütle azaltma katsayısı parametrelerinin hesaplamalarında da kullanılmaktadır. Bu tez çalışmasında, sabit deney geometrisine sahip XRF sistemi açıya duyarlı hale getirilerek optimize edilecektir. Farklı saçılma açılarında farklı standart numuneler için radyasyon zırhlama parametreleri hesaplanarak yeni veriler bilim dünyasına sunulacaktır.